Compressed Sensing basierte Verschleiß- und Lebensdauerschätzung

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Für translatorische elektromagnetische Aktoren, Schriftenreihe der Institute für Systemdynamik (ISD) und optische Systeme (IOS)

ISBN: 3658500026
ISBN 13: 9783658500023
Autor: Benkler, Christian
Verlag: Springer Vieweg
Umfang: xxvii, 136 S., 62 s/w Illustr., 136 S. 62 Abb.
Erscheinungsdatum: 05.02.2026
Auflage: 1/2026
Produktform: Kartoniert
Einband: Kartoniert
Artikelnummer: 7699665 Kategorie:

Beschreibung

Im vorliegenden Buch wird ein Verfahren zur Restlebensdauerschätzung für translatorische elektromagnetische Aktoren entwickelt. Hierfür werden gemessene Stromverläufe mittels Compressed-Sensing komprimiert und die Alterungsinformation mittels Datenfusion in einen Health-Index überführt. Anschließend wird der zeitabhängige Verlauf dieses Health-Index anhand eines Modells abgebildet und dessen Parameter bzw. Zustände geschätzt, welche wiederum für die Berechnung der Restlebensdauer herangezogen werden.  

Autorenporträt

In seiner Tätigkeit am Institut für Systemdynamik der HTWG Konstanz sowie im Rahmen einer kooperativen Promotion mit der Fakultät IV der TU Berlin hat sich Christian Benkler maßgeblich mit Fragestellungen rund um Fehlerdiagnose und Restlebensdauerschätzung für elektromagnetische Aktoren beschäftigt.

Herstellerkennzeichnung:


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65189 Wiesbaden
DE

E-Mail: juergen.hartmann@springer.com

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