Optical Testing of Semiconductor Devices under High Energy Pulses

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Advanced Optical Interferometric Methods for Nanosecond Mapping of Semiconductor Devices under High Energy Pulses

ISBN: 3838104048
ISBN 13: 9783838104041
Autor: Dubec, Viktor
Verlag: Südwestdeutscher Verlag für
Umfang: 160 S.
Erscheinungsdatum: 23.07.2015
Auflage: 1/2015
Format: 1.1 x 22 x 15
Gewicht: 256 g
Produktform: Kartoniert
Einband: Kartoniert
Artikelnummer: 4736484 Kategorie:

Beschreibung

Herstellerkennzeichnung:


OmniScriptum SRL
Str. Armeneasca 28/1, office 1
2012 Chisinau
MD

E-Mail: info@omniscriptum.com

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