Medición de alto rango sin contacto basada en Visión con Tracking

Lieferzeit: Lieferbar innerhalb 14 Tagen

89,90 

Visión con Tracking

ISBN: 3639553810
ISBN 13: 9783639553819
Autor: Pastor Pérez, Jorge Juan
Verlag: Publicia
Umfang: 224 S.
Erscheinungsdatum: 06.06.2015
Auflage: 1/2015
Format: 1.5 x 22 x 15
Gewicht: 352 g
Produktform: Kartoniert
Einband: Kartoniert
Artikelnummer: 8268766 Kategorie:

Beschreibung

Este trabajo presenta un análisis de la medición de alto rango sin contacto. Tras realizar una revisión del estado del arte de esta técnica, se presenta un sistema de medición de alto rango basado en visión estereométria. En el libro se exponen tanto los aspectos de diseño y fabricación del sistema como los aspectos de caracterización, calibración y modelado cinemático. Se presenta, además, el método desarrollado para el cálculo de las coordenadas del punto medido a partir de la información de las cámaras y los parámetros de movimiento, así como los algoritmos necesarios para realizar las tareas de detección y seguimiento. Una vez discutido el modelo, se proponen técnicas de optimización de los parámetros de dicho modelo geométrico para aumentar la precisión del sistema, mostrando los resultados obtenidos en varios experimentos. Posteriormente, se proponen los algoritmos necesarios para realizar el control del sistema. El método propuesto supone una novedosa aportación a la estereometría planteado el análisis y simulación de la precisión, repetibilidad y la sensibilidad del sistema, a partir de las características de los componentes utilizados.

Autorenporträt

Doctor Ingeniero Industrial desde 2009. Es experto en robótica y visión por computador y sus principales lineas de investigación se encuentran la robótica, la visión industrial, automatización, sistemas de inspección, el control estadístico de procesos, ingeniería de calidad y el análisis funcional aplicado al control de calidad. (R-ID:N-3060-2013)

Herstellerkennzeichnung:


OmniScriptum SRL
Str. Armeneasca 28/1, office 1
2012 Chisinau
MD

E-Mail: info@omniscriptum.com

Das könnte Ihnen auch gefallen …