High Resolution Focused Ion Beams

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FIB and Applications

ISBN: 030647350X
ISBN 13: 9780306473500
Autor: Orloff, Jon/Swanson, Lynwood/Utlaut, Mark
Verlag: Springer Verlag GmbH
Umfang: xi, 304 S.
Erscheinungsdatum: 31.10.2002
Auflage: 1/2003
Format: 2.2 x 24.6 x 16.4
Gewicht: 617 g
Produktform: Gebunden/Hardback
Einband: Gebunden
Artikelnummer: 1623066 Kategorie:

Beschreibung

Herstellerkennzeichnung:


Springer Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

E-Mail: juergen.hartmann@springer.com

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