Characterization and Metrology for ULSI Technology: 1998 International Conference, 23-27 March 1998

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National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg MD, USA, 2 Bde, AIP Conference Proceedings 449

ISBN: 1563967537
ISBN 13: 9781563967535
Herausgeber: D G Seiler/A C Diebold/W M Bullis et al
Verlag: Springer Verlag GmbH
Erscheinungsdatum: 01.12.1998
Auflage: 1/1998
Produktform: Buch
Artikelnummer: 4623316 Kategorie:

Beschreibung

Herstellerkennzeichnung:


Springer Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

E-Mail: juergen.hartmann@springer.com

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