Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis

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Methods of Surface Characterization 5

ISBN: 1441932992
ISBN 13: 9781441932990
Herausgeber: Alvin W Czanderna/Theodore E Madey/Cedric J Powell
Verlag: Springer Verlag GmbH
Umfang: xx, 430 S., 70 s/w Illustr.
Erscheinungsdatum: 06.12.2010
Auflage: 1/2010
Produktform: Kartoniert
Einband: Kartoniert
Artikelnummer: 1526604 Kategorie:

Beschreibung

Herstellerkennzeichnung:


Springer Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

E-Mail: juergen.hartmann@springer.com

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