Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of SiN Interfaces

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Springer Theses

ISBN: 1461428572
ISBN 13: 9781461428572
Autor: Walkosz, Weronika
Verlag: Springer Verlag GmbH
Umfang: xiv, 110 S.
Erscheinungsdatum: 28.05.2013
Auflage: 1/2014
Produktform: Kartoniert
Einband: Kartoniert
Artikelnummer: 4950657 Kategorie:

Beschreibung

Herstellerkennzeichnung:


Springer Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

E-Mail: juergen.hartmann@springer.com

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