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69121 Heidelberg
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Testability Concepts for Digital ICs
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The Macro Test Approach, Frontiers in Electronic Testing 3
| ISBN: | 1461360048 |
|---|---|
| ISBN 13: | 9781461360049 |
| Autor: | Beenker, F P M/Bennetts, R G/Thijssen, A P |
| Verlag: | Springer Verlag GmbH |
| Umfang: | ix, 212 S., 26 s/w Illustr. |
| Erscheinungsdatum: | 04.10.2012 |
| Auflage: | 1/2013 |
| Produktform: | Kartoniert |
| Einband: | Kartoniert |
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