Test Vector Reordering Method for Low Power Testing

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Test Vector Reordering Method for Minimizing Power Dissipation in VLSI Circuits using Functional Metrics

ISBN: 3659180769
ISBN 13: 9783659180767
Autor: Paramasivam, K/Gunavathi, K
Verlag: LAP LAMBERT Academic Publishing
Umfang: 76 S.
Erscheinungsdatum: 19.07.2012
Auflage: 1/2012
Format: 0.5 x 22 x 15
Gewicht: 131 g
Produktform: Kartoniert
Einband: Kartoniert
Artikelnummer: 3909801 Kategorie:

Beschreibung

Herstellerkennzeichnung:


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22848 Norderstedt
DE

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