Photomodulated Optical Reflectance

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A Fundamental Study Aimed at Non-Destructive Carrier Profiling in Silicon, Springer Theses

ISBN: 364230107X
ISBN 13: 9783642301070
Autor: Bogdanowicz, Janusz
Verlag: Springer Verlag GmbH
Umfang: xxiv, 204 S., 51 s/w Illustr., 23 farbige Illustr.
Erscheinungsdatum: 28.06.2012
Auflage: 1/2012
Produktform: Gebunden/Hardback
Einband: Gebunden
Artikelnummer: 3345821 Kategorie:

Beschreibung

Herstellerkennzeichnung:


Springer Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

E-Mail: juergen.hartmann@springer.com

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