Photo-Excited Charge Collection Spectroscopy

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Probing the traps in field-effect transistors, SpringerBriefs in Physics

ISBN: 9400763913
ISBN 13: 9789400763913
Autor: Im, Seongil/Chang, Youn-Gyoung/Kim, Jae Hoon
Verlag: Springer Verlag GmbH
Umfang: xi, 101 S., 61 s/w Illustr., 101 p. 61 illus.
Erscheinungsdatum: 07.05.2013
Auflage: 1/2013
Produktform: Kartoniert
Einband: Kartoniert
Artikelnummer: 4396540 Kategorie:

Beschreibung

Herstellerkennzeichnung:


Springer Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

E-Mail: juergen.hartmann@springer.com

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