From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss

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Simulation and Applications, Frontiers in Electronic Testing 5

ISBN: 146128595X
ISBN 13: 9781461285953
Autor: Khare, Jitendra B/Maly, Wojciech
Verlag: Springer Verlag GmbH
Umfang: xvi, 150 S.
Erscheinungsdatum: 26.09.2011
Auflage: 1/2011
Produktform: Kartoniert
Einband: Kartoniert
Artikelnummer: 4152906 Kategorie:

Beschreibung

Herstellerkennzeichnung:


Springer Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

E-Mail: juergen.hartmann@springer.com

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