Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits

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Frontiers in Electronic Testing 30

ISBN: 038725742X
ISBN 13: 9780387257426
Autor: Kabisatpathy, Prithviraj/Barua, Alok/Sinha, Satyabroto
Verlag: Springer Verlag GmbH
Umfang: x, 182 S.
Erscheinungsdatum: 07.11.2005
Auflage: 1/2005
Produktform: Gebunden/Hardback
Einband: Gebunden
Artikelnummer: 1988375 Kategorie:

Beschreibung

Herstellerkennzeichnung:


Springer Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

E-Mail: juergen.hartmann@springer.com

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