Data Mining and Diagnosing IC Fails

Lieferzeit: Lieferbar innerhalb 14 Tagen

106,99 

Frontiers in Electronic Testing 31

ISBN: 1441937676
ISBN 13: 9781441937674
Autor: Huisman, Leendert M
Verlag: Springer Verlag GmbH
Umfang: xx, 250 S., 46 s/w Illustr., 250 p. 46 illus.
Erscheinungsdatum: 08.12.2010
Auflage: 1/2010
Produktform: Kartoniert
Einband: Kartoniert
Artikelnummer: 960900 Kategorie:

Beschreibung

Herstellerkennzeichnung:


Springer Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

E-Mail: juergen.hartmann@springer.com

Das könnte Ihnen auch gefallen …