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Herstellerkennzeichnung:
THELEM Universitätsverlag
Bergstraße 70
01139 Dresden
DE
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CHARACTERIZATION AND COMPACT MODELING OF SILICON-GERMANIUM HETEROJUNCTION BIPOLAR TRANSISTORS FROM ROOM TO CRYOGENIC TEMPERATURES
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| ISBN: | 3959082460 |
|---|---|
| ISBN 13: | 9783959082464 |
| Autor: | Jin, Xiaodi |
| Verlag: | THELEM Universitätsverlag |
| Umfang: | 210 S. |
| Erscheinungsdatum: | 07.11.2024 |
| Produktform: | Kartoniert |
| Einband: | Kartoniert |
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