CHARACTERIZATION AND COMPACT MODELING OF SILICON-GERMANIUM HETEROJUNCTION BIPOLAR TRANSISTORS FROM ROOM TO CRYOGENIC TEMPERATURES

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ISBN: 3959082460
ISBN 13: 9783959082464
Autor: Jin, Xiaodi
Verlag: THELEM Universitätsverlag
Umfang: 210 S.
Erscheinungsdatum: 07.11.2024
Produktform: Kartoniert
Einband: Kartoniert
Artikelnummer: 4867248 Kategorie:

Beschreibung

Herstellerkennzeichnung:


THELEM Universitätsverlag
Bergstraße 70
01139 Dresden
DE

E-Mail: mail@thelem.de

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