Abstraction Refinement for Large Scale Model Checking

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Series on Integrated Circuits and Systems, Integrated Circuits and Systems

ISBN: 0387341552
ISBN 13: 9780387341552
Autor: Wang, Chao/Hachtel, Gary D/Somenzi, Fabio
Verlag: Springer Verlag GmbH
Umfang: xiv, 179 S.
Erscheinungsdatum: 20.07.2006
Auflage: 1/2006
Produktform: Gebunden/Hardback
Einband: Gebunden
Artikelnummer: 1133718 Kategorie:

Beschreibung

Herstellerkennzeichnung:


Springer Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

E-Mail: juergen.hartmann@springer.com

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