Nanographen und Graphen im STM und SFM

Lieferzeit: Lieferbar innerhalb 14 Tagen

69,90 

Strukturen und Elektronische Eigenschaften von Nanographen-Graphen-Systemen sowie Schnitt- und Faltverhalten von Graphen

ISBN: 3838135067
ISBN 13: 9783838135069
Autor: Eilers, Stefan
Verlag: Südwestdeutscher Verlag für
Umfang: 172 S.
Erscheinungsdatum: 11.07.2015
Auflage: 1/2015
Format: 1.1 x 22 x 15
Gewicht: 274 g
Produktform: Kartoniert
Einband: Kartoniert
Artikelnummer: 8419646 Kategorie:

Beschreibung

Der Autor zeigt in dieser Arbeit kompakt und anschaulich, dass Nanometer große Graphene (Nanographene) in Verbindung mit Graphen an einer Oberfläche ein Materialsystem mit anwendungsfreundlichen Eigenschaften darstellt. An Hand von Untersuchungen im Rastertunnelmikroskop (STM) legt er verständlich dar, dass strukturelle und elektronische Eigenschaften des Materialsystems homogen, definiert und stabil vorliegen. Nanographen und Graphen besitzen somit entscheidende Voraussetzungen für Anwendungen in elektronischen sowie sensorischen Bauelementen. Der Autor zeigt mit Hilfe mechanisch manipulatorischer Untersuchungen im Rasterkraftmikroskop (SFM), welche Besonderheiten Graphen als atomar dünnes Material bei definierten Schnitt- sowie Faltprozessen aufweist. Er zieht als einen grundlegenden Schluss, dass sich Graphen mechanisch wie makroskopische Objekte verhält und mit einem entsprechenden Modell beschreiben lässt.

Autorenporträt

Dr. Stefan Eilers studierte Physik an der Humboldt-Universität zu Berlin und fertigte seine Diplomarbeit über Halbleiter-Magnetfeldsensoren an. Er forschte im Rahmen seiner Doktorarbeit am Institut für Physik der Humboldt-Universität an Nanographen und Graphen.

Herstellerkennzeichnung:


OmniScriptum SRL
Str. Armeneasca 28/1, office 1
2012 Chisinau
MD

E-Mail: info@omniscriptum.com

Das könnte Ihnen auch gefallen …