Beschreibung
Para visualizar, medir y conocer las dimensiones en superficies micrométricas de espejos, diferentes lentes de equipos ópticos como lo son modernos microscopios, vinoculáres eléctronicos de gran alcance, láseres, superficies metálicas,deformaciones mecánicas etc; es necesario aplicar técnicas no destructivas o no invasivas. La interferometría es una rama de la Metrología Óptica encargada de utilizar técnicas de medición a partir de la interferencia de un haz de luz. El libro expone técnica de cómputo suave que combina excelentemente el Algoritmo de optimización por Búsqueda Armónica con la técnica de Demodulación de fase por Frecuencia Guiada, con la unión de ambas técnicas se estiman los parámetros o elementos que corresponden a la fase del objeto de prueba; dicha fase proporciona todas las características de la micro medición como lo son forma, dimensiones, etc. Se muestra la implementación obteniendo un desempeño correcto para patrones de franjas no muy cercanas y además patrones de franjas cerradas
Autorenporträt
Ingeniero en Electrónica egresado en 1998 por el ITA Aguascalientes, se graduó del Doctorado en Ciencia y Tecnología en el año de 2016 en Matemáticas Aplicadas a la Óptica por la Universidad de Guadalajara. Sus áreas de interés son la demodulación de patrones de franjas, procesamiento de imágenes digitales e inteligencia artificial.
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