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A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications, Springer Series in Materials Science 85

ISBN: 3642064531
ISBN 13: 9783642064531
Autor: Rein, Stefan
Verlag: Springer Verlag GmbH
Umfang: xxvi, 492 S.
Erscheinungsdatum: 19.10.2010
Auflage: 1/2010
Produktform: Kartoniert
Einband: Kartoniert
Artikelnummer: 1517019 Kategorie:

Beschreibung

Herstellerkennzeichnung:


Springer Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

E-Mail: juergen.hartmann@springer.com

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