Charged Semiconductor Defects

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Structure, Thermodynamics and Diffusion, Engineering Materials and Processes

ISBN: 1849968209
ISBN 13: 9781849968201
Autor: Seebauer, Edmund G/Kratzer, Meredith C
Verlag: Springer Verlag GmbH
Umfang: xiv, 298 S.
Erscheinungsdatum: 22.10.2010
Auflage: 1/2009
Produktform: Kartoniert
Einband: Kartoniert
Artikelnummer: 1301772 Kategorie:

Beschreibung

Herstellerkennzeichnung:


Springer Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

E-Mail: juergen.hartmann@springer.com

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