Vermessung von Kristallstrukturen mit Methoden der Bildverarbeitung und Statistik

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ISBN: 3867461945
ISBN 13: 9783867461948
Autor: Schmidt, Olaf
Verlag: Examicus Verlag
Umfang: 96 S.
Erscheinungsdatum: 18.01.2013
Auflage: 2/2013
Format: 0.8 x 21 x 14.8
Gewicht: 152 g
Produktform: Kartoniert
Einband: Kartoniert
Artikelnummer: 4394593 Kategorie:

Beschreibung

Herstellerkennzeichnung:


GRIN Publishing GmbH
Waltherstraße 23
80337 München
DE

E-Mail: info@grin.com

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