Beschreibung
Dieses Papier stellt das Modell vor, das für die Analyse von Bildern mit Beugungsmustern entwickelt wurde, sowie die Software, die entwickelt wurde, um Messungen von Winkeln und Abständen zwischen verschiedenen charakteristischen Punkten (Signalen) durchzuführen, die in den Mustern enthalten sind, die von den Forschern des Center for Research in Advanced Materials (CIMAV) untersucht werden. Der Hauptgrund für die Entwicklung dieses Systems liegt darin, dass Forscher den Prozess der Analyse und Indexierung von Beugungsmustern manuell durchführen müssen, eine Aufgabe, die mühsam und anfällig für menschliche Fehler wird. Aus diesem Grund wurde das Werkzeug so konzipiert, dass es die Indizierung von Mustern in Bildern automatisiert und unterstützt, den Prozess der Signalerkennung erleichtert und so eine genauere Messung zwischen den Elementen des analysierten Beugungsmusters erzielt.
Autorenporträt
Tania Campos uzyskala tytul magistra w dziedzinie systemów komputerowych w dziedzinie sztucznej inteligencji w kampusie TecNM Chihuahua II w 2016 roku. Jest wspólautorka artykulu Metoda wykrywania sygnalów w pojedynczych krysztalowych wzorcach dyfrakcyjnych za pomoca oprogramowania do indeksowania wzorców dyfrakcyjnych, opublikowanego w Journal of Mechanics Engineering and Automation w 2015 roku.
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