Markov Random Field Modeling in Image Analysis

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Advances in Computer Vision and Pattern Recognition

ISBN: 1849967679
ISBN 13: 9781849967679
Autor: Li, Stan Z
Verlag: Springer Verlag GmbH
Umfang: xxii, 362 S., 111 s/w Illustr., 362 p. 111 illus.
Erscheinungsdatum: 21.10.2010
Auflage: 3/2010
Format: 1.7 x 23.6 x 15.6
Gewicht: 689 g
Produktform: Kartoniert
Einband: Kartoniert
Artikelnummer: 1887939 Kategorie:

Beschreibung

Herstellerkennzeichnung:


Springer Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

E-Mail: juergen.hartmann@springer.com

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