Risk Methodologies for Technological Legacies

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NATO Science Series: IV: 18

ISBN: 1402012586
ISBN 13: 9781402012587
Herausgeber: Dennis Bley/Vitaly A Eremenko/James G Droppo
Verlag: Springer Verlag GmbH
Umfang: xxvii, 366 S.
Erscheinungsdatum: 30.04.2003
Auflage: 1/2003
Produktform: Kartoniert
Einband: Kartoniert
Artikelnummer: 1563850 Kategorie:

Beschreibung

Herstellerkennzeichnung:


Springer Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

E-Mail: juergen.hartmann@springer.com

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