Interconnect Reliability in Advanced Memory Device Packaging

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Springer Series in Reliability Engineering

ISBN: 3031267109
ISBN 13: 9783031267109
Autor: Gan, Chong Leong/Huang, Chen-Yu
Verlag: Springer Verlag GmbH
Umfang: xviii, 210 S., 11 s/w Illustr., 89 farbige Illustr., 210 p. 100 illus., 89 illus. in color.
Erscheinungsdatum: 30.04.2024
Auflage: 1/2024
Produktform: Kartoniert
Einband: Kartoniert
Artikelnummer: 3554469 Kategorie:

Beschreibung

Herstellerkennzeichnung:


Springer Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

E-Mail: juergen.hartmann@springer.com

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