Characterization Methods of Submicron MOSFETs

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The Springer International Series in Engineering and Computer Science 352

ISBN: 0792396952
ISBN 13: 9780792396956
Herausgeber: Hisham Haddara
Verlag: Springer Verlag GmbH
Umfang: xiv, 232 S.
Erscheinungsdatum: 31.01.1996
Produktform: Gebunden/Hardback
Einband: Gebunden
Artikelnummer: 1582795 Kategorie:

Beschreibung

Herstellerkennzeichnung:


Springer Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

E-Mail: juergen.hartmann@springer.com

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