Beschreibung
Das Testen des OEZA ist eine wichtige Aktivität, die die Hauptrolle bei der Entscheidung über die Genauigkeit eines Systems spielt. Viele Anwendungen beobachten die Messung mit ADC. Diese Anwendung bringt eine hohe Genauigkeit und Auflösung mit sich, die durch den dynamischen Bereich des Signals gewährleistet wird. Die Werte der ADC-Parameter können in Zukunft durch Erhöhung der Anzahl der Abtastwerte, der Frequenz und der Übersteuerung verbessert werden. Der Testalgorithmus kann für die experimentelle ADC-Echtzeitanalyse angewendet werden. Modifizierter Code-Dichte-Algorithmus, der die Auswirkungen von Fehlern auf die Histogrammdaten reduziert. Dieser Algorithmus kann die gleiche Genauigkeit wie der herkömmliche Code-Dichte-Algorithmus erreichen, jedoch mit einer wesentlich geringeren Anzahl von Abtastwerten, was eine kürzere Testzeit und geringere Testkosten bedeutet. Die neue Methode ist sehr effizient und kann verwendet werden, um das Testen von hochauflösenden ADCs mit besserer Abdeckung zu ermöglichen und die Zeit und Kosten für das Testen von ADCs mittlerer Auflösung zu reduzieren. Dieses Buch wurde mit künstlicher Intelligenz übersetzt.
Autorenporträt
Dr. JAIN Associate Professor, EEE-afdeling, Mandsaur University, promoveerde in ECE. Hij heeft papers gepubliceerd in International Journal en vermeld in IEEE conferentie Proceedings. Onder zijn leiding zijn studentenprojecten gesanctioneerd voor financiële bijstand door het Department of Science & Technology.
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