Mikro- und Nanoskopie der Werkstoffe

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ISBN: 3540899456
ISBN 13: 9783540899457
Autor: Hornbogen, Erhard/Skrotzki, Birgit
Verlag: Springer Verlag GmbH
Umfang: viii, 248 S.
Erscheinungsdatum: 24.08.2009
Auflage: 3/2009
Format: 1.5 x 23.5 x 15.5
Gewicht: 397 g
Produktform: Kartoniert
Einband: KT

3. Auflage

Das Buch gibt eine Einführung in die mikroskopische Strukturanalyse von Werkstoffen, vor allem von Metallen, aber auch von Halbleitern, Keramiken, Polymeren und Verbundwerkstoffen. Die mikroskopischen Methoden werden systematisch und vergleichend erörtert. Da Strukturen im Nanometerbereich in der Materialforschung ganz besondere Beachtung gewonnen haben, stehen die Methoden der Transmissionselektronenmikroskopie im Mittelpunkt des Buches. Zu ihnen zählen auch die Beugung zur Analyse der Struktur der Phasen sowie die Spektroskopie für die quantitative Bestimmung der Atomarten. Darüber hinaus wurden insbesondere die Lichtmikroskopie und die Rasterelektronenmikroskopie gründlich behandelt. Das Buch eignet sich für Studierende der Werkstoffwissenschaft ebenso wie für Naturwissenschaftler und Ingenieure, die einen Einstieg in das Gebiet der Mikroskopie von metallischen, keramischen und polymeren Werkstoffen suchen. Jedes Kapitel enthält zahlreiche Abbildungen und weiterführende Literaturhinweise. Die 3. Auflage wurde gründlich neu bearbeitet und aktualisiert.

Artikelnummer: 1006901 Kategorie:

Beschreibung

Das Buch führt in die mikroskopische Strukturanalyse von Werkstoffen ein, vor allem von Metallen, aber auch Halbleitern, Keramiken, Polymeren und Verbundwerkstoffen. Die Methoden werden systematisch erörtert, wobei neben der Licht- und Rasterelektronenmikroskopie die Transmissionselektronenmikroskopie sowie die Spektroskopie im Mittelpunkt stehen. Die 3. Auflage wurde gründlich bearbeitet und aktualisiert. Geeignet für Studierende der Werkstoffwissenschaften ebenso wie für Naturwissenschaftler und Ingenieure, die einen Einstieg in das Gebiet suchen.

Inhaltsverzeichnis

1 Systematik und Methoden zur Kennzeichnung des Aufbaus der Werkstoffe .................................................................................................. 1.1 Einleitung.......................................................................................... 1.2 Systematik des Gefüges................................................................... 1.3 Verschiedene optische Verfahren zur Analyse des Aufbaus der Werkstoffe ............................................................................................ 1.3.1 Lichtmikroskopie..................................................................... 1.3.2 Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) ......................... 1.3.3 Rastertransmissionselektronenmikroskopie (STEM) .............. 1.3.4 Feldionenmikroskopie (FIM) und Atomsondenspektroskopie 1.3.5 Emissionsmikroskopie............................................................. 1.3.6 Elektronenstrahlmikrosonde (ESMA) ..................................... 1.3.7 Rasterelektronenmikroskop (REM)......................................... 1.3.8 Focused Ion Beam (FIB) ......................................................... 1.3.9 Rastersondenmikroskopie (SPM) ............................................ 1.3.10 Computertomographie (CT) .................................................. 1.4 Nanostrukturen ........................................................................... 1.5 Kombination der Untersuchungsverfahren................................... Literatur ............................................................................................ 2 Herstellung von Proben................................................................ 2.1 Einleitung..................................................................................... 2.2 Vorzerkleinern................................................................................ 2.3 Vordünnen ...................................................................................... 2.4 Dünnpolieren .................................................................................. 2.5 Ionendünnen ................................................................................... 2.6 Zielpräparation................................................................................ 2.7 Focused Ion Beam.......................................................................... 2.8 Einführung der Probe in den Probenhalter ..................................... Literatur ............................................................................................... 3 Elektronenbeugung.......................................................................... X Inhalt 3.1 Einleitung........................................................................................ 3.2 Benennung von Kristallstrukturen.................................................... 3.3 Auswertung der Beugungsbilder ..................................................... 3.4 Simulation von Beugungsbildern ..................................................... 3.5 Intensität der Reflexe...................................................................... 3.6 Kikuchi-Linien................................................................................ 3.7 Weitere Information aus Beugungsbildern....................................... 3.8 Konvergente Beugung ..................................................................... 3.9 Beugung an Gläsern und Quasikristallen ........................................ Literatur ................................................................................................ 4 Durchstrahlung von amorphen Stoffen und perfekten Kristallen.. 4.1 Amorphe St ...

Autorenporträt

Prof. em. Dr.-Ing. Dr. h.c. Erhard Hornbogenstudierte Metallkunde an der TH-Stuttgart. Nach Forschung (US Steel, Monroeville, USA; MPI und TU Stuttgart) Professur für Metallphysik in Göttingen. 1968-1995 Professor für Werkstoffwissenschaft an der Universität Bochum. Forschungsschwerpunkte: Einfluss der Mikrostruktur auf Werkstoffeigenschaften; Bedeutung von Werkstoffen in Technik und Gesellschaft. Autor mehrerer Lehrbücher

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